粒度分析計
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日機装株式会社製 マイクロトラック ＭＴ３０００Ⅱシリーズ |
レーザ回折散乱法 測定レンジ：０．０２～２，８００μｍ 特許３本レーザ方式の採用により幅広いレンジを高分解能に 測定が可能。 Ｗｅｔ、Ｄｒｙ、有機溶媒などあらゆるサンプルの測定が可能。 試料循環器、試料コンディショナーは豊富で多彩なラインナップ。 Ｗｅｔ、Ｄｒｙ両プロセスでのインライン測定が可能。 
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日機装株式会社製 ナノトラック ＵＰＡシリーズ |
動的光散乱法（ヘテロダイン方式） 測定レンジ：０．８～６，５００ｎｍ 高濃度から低濃度まで安定したデータ出力が可能。 スタンダードモデル(ＵＰＡ－ＥＸ１５０)の他に、極低濃度測定が可能なＵＰＡ－ＵＴ１５１、インライン測定が可能なＵＰＡ－ＥＸ２５０をラインナップ。 ゼータ電位測定が可能な、ＵＰＡ－ＵＺ１５２も新たに追加。
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日機装株式会社製 ディスク遠心沈降式 ＢＩ－ＤＣＰ |
ディスク遠心沈降式（ラインスタート法） 測定レンジ：０．０１～６０μｍ ディスク遠心を利用したラインスタート法により、マルチピーク分布を高い分解能で測定します。 ディスクスピードを１５，０００回転まで任意設定ができます。
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ゼータ電位測定装置
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日機装株式会社製 ナノトラック ＵＰＡ－ＵＺ１５２ |
ゼータ電位測定装置 ｗｉｔｈ 粒度分布測定装置 ゼータ電位測定：電気泳動法 （ＦＴＴ-ヘテロダイン法） 粒子径測定：動的光散乱法 （ＦＴＴ－ヘテロダイン法） ゼータ電位測定レンジ：－１２５～＋１２５ｍＶ 粒子径測定レンジ：０．８～６，５００ｎｍ 試料の入れ替えや、電極の抜き差しなく、粒子径・ゼータ電位測定をワンステップで測定。
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耐候性促進試験機
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岩崎電気株式会社製 メタルハライドランプ式 アイスーパーＵＶテスター ＳＵＶ－Ｗ１６１ |
超促進耐候性試験機 効率よく紫外線を発生させる特殊放電ランプを採用。 紫外線強度は、太陽光や従来のウェザーメーターの３０倍以上のレベルを確保しています。 屋外暴露１０年分が約１０００時間で再現できるという驚異的なスピードで、塗料、インキ、顔料、繊維、建材材料、最近では太陽電池などの材料の研究開発に役立っています。 屋外暴露約1年分の紫外線日射量を最短48時間の照射で促進させることができます。 従来品（W-151）に比べ、消耗品のロングライフ化を実現。ランニングコストを大幅に削減することができます。 紫外線照射範囲：２９５～４５０ｎｍ 有効照射面積：１９０×４２２ｎｍ 紫外線照射試験以外に、結露試験、休止試験が可能。 自動ＵＶ照度制御機能付
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岩崎電気株式会社製 キセノンランプ式 アイスーパーキセノンテスター ＸＥＲ－Ｗ７５ |
キセノンランプ式促進耐候試験機 太陽光の分光分布に最も近い条件での試験が可能。 塗料、プラスチック、自動車関係などの規格試験に対応。 （オプション品の追加が必要な場合もあり）
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日清紡メカトロニクス製 耐候性管理ソフトウェア |
曝露試験・耐候試験データ管理ソフトウェア 自由に試験項目を設定、データの一元管理ができるソフトウェア。異なる試験どうしの相関比較、促進倍率シュミレーションが可能。各種 測色計・光沢計との接続が可能、自動でデータ登録可能。 （一部接続できない機種がございます。）
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表面性状測定機
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テーラーホブソン 非接触表面性状測定機 タリサーフＣＣＩ Ｌｉｔｅ |
超精密非接触三次元表面性状測定機 高精度を維持して、更に低価格を実現した仕様 ミラウ型干渉方式（マイケルソン型干渉方式） 測定原理：コヒーレンス・コリレーション・アルゴニズム（特許） 縦方向分解能（Ｚ軸）：０．０１ｎｍ 縦方向測定レンジ：２．２ｍｍ 測定可能表面反射率：０．３％～１００％ 測定データポイント：１０２４×１０２４ピクセル Ｘ－Ｙ軸方向分解能：最大０．１６μｍ ＲＭＳ再現性：０．０２ｎｍ以下
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テーラーホブソン 非接触表面性状測定機 タリサーフＣＣＩ ６０００ |
超精密非接触三次元表面性状測定機 業界最高峰の高分解能、低ノイズレベル仕様 ミラウ型干渉方式（マイケルソン型干渉方式） 測定原理：コヒーレンス・コリレーション・アルゴニズム（特許） 縦方向分解能（Ｚ軸）：０．０１ｎｍ 縦方向測定レンジ：１００μｍ 測定可能表面反射率：０．３％～１００％ 測定データポイント：１０２４×１０２４ピクセル Ｘ－Ｙ軸方向分解能：最大０．１６μｍ ＲＭＳ再現性：０．００３ｎｍ以下
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電子顕微鏡・画像解析
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日機装株式会社製 デスクトップ走査型電子顕微鏡 ＳＥＭＴＲＡＣ ｍｉｎｉ |
デスクトップ走査型電子顕微鏡 ＳＥＭＴＲＡＣ ｍｉｎｉ コンパクト・省スペースデザイン。冷却水も不要で設置も簡単。 ２次電子像分解能：１５ｎｍ 倍率：ｘ２０～３０，０００倍 元素分析機能：ＥＤＸ（オプション） 高速電圧仕様（ｍａｘ：３０ｋｖ）。充実した元素分析結果。 試料サイズ：大きさФ７５ｍｍ、高さ３０ｍｍ 試料ステージ：３軸 Ｘ：２０ｍｍ Ｙ：２０ｍｍ Ｒ：３６０°
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日機装株式会社製 粒子画像解析ソフトウェア Ｖｉｅｗｔｒａｃ |
粒子画像解析ソフトウェア Ｖｉｅｗｔｒａｃ 粒子の電子画像から粒子のサイズ、形状を解析・評価可能。 粒径解析：円相当径、楕円短径、楕円長径、最大フェレー径、最小フェレー径、慣性主軸径、慣性主軸幅、投影断面積、周囲長 形状解析：アスペクト比、円形度 各粒子の解析情報から粒度分布情報が出力できます。 ※精度の高い粒度分布情報を得るには、十分な数の粒子情報が必要となります。
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目視検査用光源装置
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岩崎電気株式会社製 アイインスペクター スタンドタイプ１５０Ｗ |
目視検査用光源装置アイインスペクター 色の見え方に優れた１Ａクラスの高演色性（Ｒａ９８）光源を採用。 「アイキャノルクス」 色温度：６５００Ｋ ※ＩＳＯ国際規格で色評価用としても推奨されています。 建材・電化製品・自動車などの色評価・色むら評価用として。
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岩崎電気株式会社製 アイインスペクター 卓上タイプ７０Ｗ |
目視検査用光源装置アイインスペクター 色の見え方に優れた１Ａクラスの高演色性（Ｒａ９８）光源を採用。 「アイキャノルクス」 色温度：６５００Ｋ ※ＩＳＯ国際規格で色評価用としても推奨されています。 塗料・インキなどの色評価・色むら評価用として。 また、医薬品・化粧品・食品などの異物混検査用として。
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岩崎電気株式会社製 アイインスペクター 低圧ナトリウムタイプ |
目視検査用光源装置アイインスペクター 光源：ナトリウムランプ この光は視感度が高く人の目に色収差を生じさせないため明暗の差がはっきりし、物の形や凸凹（キズ）を正確に見極めする事が可能。 ガラス・金属・プラスチックなど各種工場におけるメッキ、塗装の下地のキズ検査に最適。
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ソーラーシミュレーション
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岩崎電気株式会社製 太陽光シミュレーション |
太陽光シミュレーションシステム メタルハライドランプにより太陽光と近似した性質の光環境をシミュレートします。 太陽電池（ＰＶ）の開発・製造をサポート。 ＰＶモジュールやＰＶセルの評価試験機もラインナップ。 赤外線の熱量に重点を置いた赤外線ランプソーラーシュミレーターもご提案できます。
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岩崎電気株式会社製 紫外線照射環境試験装置 |
紫外線照射環境試験装置 紫外線を用いて、太陽電気モジュール/セルの劣化進行を測定。 財団法人電気安全環境研究所（ＪＥＴ）と岩崎電気株式会社による共同特許出願の製品です。
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